МПК - G01R 31/26 - .испытание отдельных полупроводниковых приборов

G01R 31/26.испытание отдельных полупроводниковых приборов

МПК Классификатор МПК

Раздел G ФИЗИКА
- G01 Измерение; испытание
  - G01R Измерение электрических и магнитных величин
    - G01R 31/00 Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах
      - G01R 31/26 .испытание отдельных полупроводниковых приборов

КодНаименование

G01R 31/265

..бесконтактные испытания

G01R 31/27

..приборов без их удаления из схемы, частью которой они являются, например компенсация влияния окружающих элементов

Услуги и цены

Патентование

Изобретения, Модели, ПО

Подробнее

Исследования

по ГОСТ, Поиск, Оценка

Подробнее

Регистрация

Товарные знаки, ЭВМ, АП

Подробнее

Суды

ППС, СИП, ФАС, Арбитраж

Подробнее

Статьи по теме

Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.

Приходько Илья Викторович

Эксперт Prilan. ИЗ, ПМ, ПО, ТЗ. Стаж более 15 лет.

Нажимая кнопку «Отправить», я подтверждаю свою дееспособность, и даю согласие на получение информации от Сервиса «Prilan», согласие на обработку персональных данных в соответствии с Политикой конфиденциальности и Пользовательским соглашением.

Инструменты для классификации ИС

G01R 31/26.испытание отдельных полупроводниковых приборов

Приходько Илья Викторович

Благодарим за обращение!

Благодарим за обращение в нашу компанию!

Эксперты «Prilan»