G01R 31/26.испытание отдельных полупроводниковых приборов

МПК Классификатор МПК
  • Раздел G ФИЗИКА
    • G01 Измерение; испытание
      • G01R Измерение электрических и магнитных величин
        • G01R 31/00 Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах
          • G01R 31/26 .испытание отдельных полупроводниковых приборов
КодНаименование
..бесконтактные испытания
..приборов без их удаления из схемы, частью которой они являются, например компенсация влияния окружающих элементов
Статьи по теме
Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.


Приходько Илья Викторович
Эксперт Prilan - Профессиональное консультирование, Оказание услуг и Подбор эксперта для защиты интеллектуальной собственности Стаж более 15 лет.
Приходько Илья Викторович
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос