G01Q 70/06.матрицы наконечников зондов

МПК Классификатор МПК
  • Раздел G ФИЗИКА
    • G01 Измерение; испытание
      • G01Q Техника сканирующего зонда или устройства; различные применения техники сканирующего зонда, например микроскопия сканирующего зонда 2010.01
        • G01Q 70/00 Общие аспекты SPM зондов, их изготовление или относящееся к ним оснащение в той мере, в какой эти зонды не являются специально предназначенными для одного конкретного типа техники SPM, охватываемых одной из групп G01Q 60/00
          • G01Q 70/06 .матрицы наконечников зондов
Статьи по теме
Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.


Приходько Илья Викторович
Эксперт Prilan - Профессиональное консультирование, Оказание услуг и Подбор эксперта для защиты интеллектуальной собственности Стаж более 15 лет.
Приходько Илья Викторович
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос