G01Q 60/50.магнитносиловая микроскопия или устройства для нее, например MFM зонды

МПК Классификатор МПК

Раздел G ФИЗИКА
- G01 Измерение; испытание
  - G01Q Техника сканирующего зонда или устройства; различные применения техники сканирующего зонда, например микроскопия сканирующего зонда 2010.01
    - G01Q 60/00 Особые виды SPM (Микроскопии Сканирующего Зонда) или устройства для них; обязательные компоненты для них
      - G01Q 60/50 .магнитносиловая микроскопия или устройства для нее, например MFM зонды

КодНаименование

..резонанс

..зонды, их изготовление или относящееся к ним оснащение, например держатели

Статьи по теме

Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.

Эксперт Prilan. Профессиональное консультирование и помощь в области защиты интеллектуальной собственности более 15 лет.

Приходько Илья Викторович

Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос

Благодарим за обращение в нашу компанию!