МПК - G01Q 60/44 - .сканирующая ионопроводящая микроскопия или устройства для нее, например SICM зонды

G01Q 60/44.сканирующая ионопроводящая микроскопия или устройства для нее, например SICM зонды

МПК Классификатор МПК

Раздел G ФИЗИКА
- G01 Измерение; испытание
  - G01Q Техника сканирующего зонда или устройства; различные применения техники сканирующего зонда, например микроскопия сканирующего зонда 2010.01
    - G01Q 60/00 Особые виды SPM (Микроскопии Сканирующего Зонда) или устройства для них; обязательные компоненты для них
      - G01Q 60/44 .сканирующая ионопроводящая микроскопия или устройства для нее, например SICM зонды

Услуги и цены

Патентование

Изобретения, Модели, ПО

Подробнее

Исследования

по ГОСТ, Поиск, Оценка

Подробнее

Регистрация

Товарные знаки, ЭВМ, АП

Подробнее

Суды

ППС, СИП, ФАС, Арбитраж

Подробнее

Статьи по теме

Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.

Приходько Илья Викторович

Эксперт Prilan. ИЗ, ПМ, ПО, ТЗ. Стаж более 15 лет.

Нажимая кнопку «Отправить», я подтверждаю свою дееспособность, и даю согласие на получение информации от Сервиса «Prilan», согласие на обработку персональных данных в соответствии с Политикой конфиденциальности и Пользовательским соглашением.

Инструменты для классификации ИС

G01Q 60/44.сканирующая ионопроводящая микроскопия или устройства для нее, например SICM зонды

Приходько Илья Викторович

Благодарим за обращение!

Благодарим за обращение в нашу компанию!

Эксперты «Prilan»