G01Q 60/42...функционализация

МПК Классификатор МПК
  • Раздел G ФИЗИКА
    • G01 Измерение; испытание
      • G01Q Техника сканирующего зонда или устройства; различные применения техники сканирующего зонда, например микроскопия сканирующего зонда 2010.01
        • G01Q 60/00 Особые виды SPM (Микроскопии Сканирующего Зонда) или устройства для них; обязательные компоненты для них
          • G01Q 60/24 .атомная силовая микроскопия или устройства для нее, например AFM зонды
            • G01Q 60/38 ..зонды, их изготовление или относящееся к ним оснащение, например держатели
Статьи по теме
Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.


Приходько Илья Викторович
Эксперт Prilan - Профессиональное консультирование, Оказание услуг и Подбор эксперта для защиты интеллектуальной собственности Стаж более 15 лет.
Приходько Илья Викторович
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос