G01Q 60/00Особые виды SPM (Микроскопии Сканирующего Зонда) или устройства для них; обязательные компоненты для них

    МПК Классификатор МПК
    • Раздел G ФИЗИКА
      • G01 Измерение; испытание
        • G01Q Техника сканирующего зонда или устройства; различные применения техники сканирующего зонда, например микроскопия сканирующего зонда 2010.01
          • G01Q 60/00 Особые виды SPM (Микроскопии Сканирующего Зонда) или устройства для них; обязательные компоненты для них
КодНаименование
.SPM множественного типа, т.е. включающая два или более вида техники SPM
.сканирующая туннельная микроскопия или устройства для нее, например STM зонды
.сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля или устройства для нее, например SNOM зонды
.атомная силовая микроскопия или устройства для нее, например AFM зонды
.сканирующая ионопроводящая микроскопия или устройства для нее, например SICM зонды
.сканирующая ёмкостная микроскопия или устройства для нее, например SCM зонды
.магнитносиловая микроскопия или устройства для нее, например MFM зонды
.сканирующая термальная микроскопия или устройства для нее, например SThM зонды
.сканирующая электрохимическая микроскопия или устройства для нее, например SЕCM
Статьи по теме
  • Патентование измерительной техники

    Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.


Приходько Илья Викторович
Эксперт Prilan. Профессиональное консультирование и помощь в области защиты интеллектуальной собственности более 15 лет.
Приходько Илья Викторович
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос