G01QТехника сканирующего зонда или устройства; различные применения техники сканирующего зонда, например микроскопия сканирующего зонда 2010.01

Международный патентный классификатор (МПК) - Класс G01Q: Техника сканирующего зонда или устройства; различные применения техники сканирующего зонда, например микроскопия сканирующего зонда

Класс G01Q в Международном патентном классификаторе (МПК) охватывает методы и устройства, связанные с техникой сканирующего зонда. Эта область включает в себя технологии, используемые для детализированного анализа поверхности и материалов на наноуровне, а также различные применения данных методов в научных исследованиях и промышленности.

G01Q 10/00: Устройства сканирования или позиционирования, т.е. устройства для активного управления движением или положением зонда

Этот подкласс охватывает устройства и системы, предназначенные для управления движением и положением сканирующего зонда. Точные движения и позиционирование являются ключевыми аспектами для достижения высокой точности при проведении измерений и исследований.

Примеры:

• Пьезоэлектрические элементы — используются для точного перемещения зонда в пределах наноразмеров.
• Системы обратной связи — обеспечивают стабильность и точность позиционирования зонда во время сканирования.

G01Q 20/00: Мониторинг перемещения или положения зонда

Этот подкласс включает методы и устройства для контроля и мониторинга перемещения или положения зонда. Такие системы позволяют отслеживать точное расположение зонда, что важно для точных измерений и анализа.

Примеры:

• Лазерные интерферометры — применяются для высокоточного измерения перемещения зонда.
• Оптические датчики положения — используются для определения точного местоположения зонда относительно исследуемой поверхности.

G01Q 30/00: Вспомогательные средства, служащие для облегчения или улучшения применения методов или устройств сканирующего зонда, например дисплеи или устройства обработки данных

Этот подкласс охватывает различные вспомогательные устройства и системы, которые облегчают использование и повышают эффективность техники сканирующего зонда. Важной частью здесь являются системы обработки данных и визуализации.

Примеры:

• Программное обеспечение для анализа данных — используется для интерпретации и визуализации результатов сканирования.
• Дисплеи высокого разрешения — обеспечивают точное отображение данных, полученных в ходе сканирования.

G01Q 40/00: Калибровка, например зондов

Этот подкласс включает методы и устройства для калибровки сканирующих зондов. Калибровка необходима для обеспечения точности измерений и долгосрочной стабильности работы зонда.

Примеры:

• Калибровочные образцы — стандартизированные объекты, используемые для настройки точности зонда.
• Автоматические системы калибровки — устройства, которые выполняют калибровку зонда перед каждым использованием.

G01Q 60/00: Особые виды SPM (Микроскопии Сканирующего Зонда) или устройства для них; обязательные компоненты для них

Этот подкласс охватывает специфические виды микроскопии сканирующего зонда (SPM) и устройства, предназначенные для этих видов микроскопии. Каждый тип SPM может использовать уникальные методы и оборудование для достижения своих целей.

Примеры:

• Атомно-силовая микроскопия (AFM) — метод, позволяющий исследовать поверхность с атомарной точностью.
• Сканирующая туннельная микроскопия (STM) — используется для исследования проводящих поверхностей на уровне атомов.

G01Q 70/00: Общие аспекты SPM зондов, их изготовление или относящееся к ним оснащение в той мере, в какой эти зонды не являются специально предназначенными для одного конкретного типа техники SPM, охватываемых одной из групп G01Q 60/00

Этот подкласс охватывает общие аспекты изготовления зондов для микроскопии сканирующего зонда, а также оборудование, связанное с их использованием. Это может включать методы производства зондов, их обработку и оснащение.

Примеры:

• Зонды из кремния — распространенный тип зондов, используемых в AFM и STM.
• Нанопроизводство зондов — процессы, используемые для создания зондов с необходимыми характеристиками для конкретных задач.

G01Q 80/00: Применение методов сканирующего зонда иное, чем для микроскопии сканирующего зонда

Этот подкласс охватывает использование методов сканирующего зонда в различных областях, отличных от микроскопии. Это может включать применение в медицине, биологии, материаловедении и других науках.

Примеры:

• Использование сканирующих зондов в биологических исследованиях — например, для анализа клеточных мембран.
• Применение в контроле качества материалов — анализ структуры материалов на микро- и наноуровне.

G01Q 90/00: Методы сканирующего зонда или устройства, не предусмотренные в других группах данного подкласса

Этот подкласс включает инновационные или специализированные методы и устройства, связанные с техникой сканирующего зонда, которые не попадают под другие категории данного класса.

Примеры:

• Новые методы зондирования — инновационные техники, находящиеся на этапе разработки и не охваченные стандартными методами SPM.
• Гибридные системы сканирования — сочетание различных технологий для достижения уникальных результатов в исследованиях.

Заключение

Класс G01Q МПК охватывает комплексные и высокоточные технологии, связанные с техникой сканирующего зонда. Эти методы играют ключевую роль в современных научных исследованиях и промышленности, предоставляя уникальные возможности для анализа материалов и поверхностей на наноуровне.