Класс G01Q в Международном патентном классификаторе (МПК) охватывает методы и устройства, связанные с техникой сканирующего зонда. Эта область включает в себя технологии, используемые для детализированного анализа поверхности и материалов на наноуровне, а также различные применения данных методов в научных исследованиях и промышленности.
Этот подкласс охватывает устройства и системы, предназначенные для управления движением и положением сканирующего зонда. Точные движения и позиционирование являются ключевыми аспектами для достижения высокой точности при проведении измерений и исследований.
Примеры:
Этот подкласс включает методы и устройства для контроля и мониторинга перемещения или положения зонда. Такие системы позволяют отслеживать точное расположение зонда, что важно для точных измерений и анализа.
Примеры:
Этот подкласс охватывает различные вспомогательные устройства и системы, которые облегчают использование и повышают эффективность техники сканирующего зонда. Важной частью здесь являются системы обработки данных и визуализации.
Примеры:
Этот подкласс включает методы и устройства для калибровки сканирующих зондов. Калибровка необходима для обеспечения точности измерений и долгосрочной стабильности работы зонда.
Примеры:
Этот подкласс охватывает специфические виды микроскопии сканирующего зонда (SPM) и устройства, предназначенные для этих видов микроскопии. Каждый тип SPM может использовать уникальные методы и оборудование для достижения своих целей.
Примеры:
Этот подкласс охватывает общие аспекты изготовления зондов для микроскопии сканирующего зонда, а также оборудование, связанное с их использованием. Это может включать методы производства зондов, их обработку и оснащение.
Примеры:
Этот подкласс охватывает использование методов сканирующего зонда в различных областях, отличных от микроскопии. Это может включать применение в медицине, биологии, материаловедении и других науках.
Примеры:
Этот подкласс включает инновационные или специализированные методы и устройства, связанные с техникой сканирующего зонда, которые не попадают под другие категории данного класса.
Примеры:
Класс G01Q МПК охватывает комплексные и высокоточные технологии, связанные с техникой сканирующего зонда. Эти методы играют ключевую роль в современных научных исследованиях и промышленности, предоставляя уникальные возможности для анализа материалов и поверхностей на наноуровне.
Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.
Оставьте свои контактные данные и мы вам перезвоним
Нажимая кнопку «Отправить», я подтверждаю свою дееспособность, и даю согласие на получение информации от Сервиса «Prilan», согласие на обработку персональных данных в соответствии с Политикой конфиденциальности и Пользовательским соглашением.