G01N 3/42..путем получения отпечатков от индентера при приложении к нему постоянной нагрузки, например сферического, пирамидального

МПК Классификатор МПК
  • Раздел G ФИЗИКА
    • G01 Измерение; испытание
      • G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
        • G01N 3/00 Исследование прочностных свойств твердых материалов путем приложения к ним механических усилий
          • G01N 3/40 .исследование твердости или упругой твердости
            • G01N 3/42 ..путем получения отпечатков от индентера при приложении к нему постоянной нагрузки, например сферического, пирамидального
КодНаименование
...причем к инденторам сначала прикладывается незначительная, а затем большая нагрузка, например по методу Роквелла
...когда инденторы осуществляют царапающее движение
Статьи по теме
Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.


Приходько Илья Викторович
Эксперт Prilan - Профессиональное консультирование, Оказание услуг и Подбор эксперта для защиты интеллектуальной собственности Стаж более 15 лет.
Приходько Илья Викторович
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос