G01N 27/82..обнаружение локальных дефектов

Запатентовать ИЗ Запатентовать ПМ Оценить ИЗ, ПМ Аннулировать ИЗ, ПМ

МПК Классификатор МПК

Раздел G ФИЗИКА
- G01 Измерение; испытание
  - G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
    - G01N 27/00 Исследование или анализ материалов с помощью электрических, электрохимических или магнитных средств
      - G01N 27/72 .путем исследования магнитных параметров
        
        G01N 27/82 ..обнаружение локальных дефектов

КодНаименование

...путем исследования магнитных полей рассеяния

...с помощью вихревых токов

Статьи по теме

Патентование измерительной техники

Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.

Приходько Илья Викторович

Эксперт Prilan - Профессиональное консультирование, Оказание услуг и Подбор эксперта для защиты интеллектуальной собственности Стаж более 15 лет.

Приходько Илья Викторович

Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос

Задать вопрос