G01N 27/61..обнаружение локальных дефектов

    МПК Классификатор МПК
    • Раздел G ФИЗИКА
      • G01 Измерение; испытание
        • G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
          • G01N 27/00 Исследование или анализ материалов с помощью электрических, электрохимических или магнитных средств
            • G01N 27/60 .путем исследования электростатических переменных величин
              • G01N 27/61 ..обнаружение локальных дефектов
Статьи по теме
  • Патентование измерительной техники

    Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.


Приходько Илья Викторович
Эксперт Prilan. Профессиональное консультирование и помощь в области защиты интеллектуальной собственности более 15 лет.
Приходько Илья Викторович
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос