G01N 23/205..дифракционными камерами

    МПК Классификатор МПК
    • Раздел G ФИЗИКА
      • G01 Измерение; испытание
        • G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
          • G01N 23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе G01N 21/00 или G01N 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения
            • G01N 23/20 .с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
              • G01N 23/205 ..дифракционными камерами
КодНаименование
...с использованием нейтронного излучения
Статьи по теме
  • Патентование измерительной техники

    Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.


Приходько Илья Викторович
Эксперт Prilan. Профессиональное консультирование и помощь в области защиты интеллектуальной собственности более 15 лет.
Приходько Илья Викторович
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос