G01N 23/18....обнаружение локальных дефектов или вкраплений

МПК Классификатор МПК
  • Раздел G ФИЗИКА
    • G01 Измерение; испытание
      • G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
        • G01N 23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе G01N 21/00 или G01N 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения
          • G01N 23/02 .путем пропускания излучений через материал
            • G01N 23/06 ..с последующим измерением поглощения
              • G01N 23/08 ...с помощью электрических средств обнаружения
                • G01N 23/18 ....обнаружение локальных дефектов или вкраплений
Статьи по теме
Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.


Приходько Илья Викторович
Эксперт Prilan - Профессиональное консультирование, Оказание услуг и Подбор эксперта для защиты интеллектуальной собственности Стаж более 15 лет.
Приходько Илья Викторович
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос