МПК - G01N 22/02 - .обнаружение локальных дефектов

G01N 22/02.обнаружение локальных дефектов

МПК Классификатор МПК

Раздел G ФИЗИКА
- G01 Измерение; испытание
  - G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
    - G01N 22/00 Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот
      - G01N 22/02 .обнаружение локальных дефектов

Услуги и цены

Патентование

Изобретения, Модели, ПО

Подробнее

Исследования

по ГОСТ, Поиск, Оценка

Подробнее

Регистрация

Товарные знаки, ЭВМ, АП

Подробнее

Суды

ППС, СИП, ФАС, Арбитраж

Подробнее

Статьи по теме

Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.

Приходько Илья Викторович

Эксперт Prilan. ИЗ, ПМ, ПО, ТЗ. Стаж более 15 лет.

Нажимая кнопку «Отправить», я подтверждаю свою дееспособность, и даю согласие на получение информации от Сервиса «Prilan», согласие на обработку персональных данных в соответствии с Политикой конфиденциальности и Пользовательским соглашением.

Инструменты для классификации ИС

G01N 22/02.обнаружение локальных дефектов

Приходько Илья Викторович

Благодарим за обращение!

Благодарим за обращение в нашу компанию!

Эксперты «Prilan»