G01N 21/896.....оптическими дефектами внутри прозрачных материалов или на их поверхности,например искривление, поверхностные дефекты

МПК Классификатор МПК
  • Раздел G ФИЗИКА
    • G01 Измерение; испытание
      • G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
        • G01N 21/00 Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей
          • G01N 21/84 .системы, предназначенные для особых целей
            • G01N 21/88 ..выявление дефектов, трещин или загрязнений
              • G01N 21/89 ...в движущемся материале, например бумаге, текстильных изделиях
                • G01N 21/892 ....характеризуемом дефектом, трещинами или признаком исследуемого объекта
                  • G01N 21/896 .....оптическими дефектами внутри прозрачных материалов или на их поверхности,например искривление, поверхностные дефекты
Статьи по теме
Патентование измерительной техники

Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.


Приходько Илья Викторович
Эксперт Prilan - Профессиональное консультирование, Оказание услуг и Подбор эксперта для защиты интеллектуальной собственности Стаж более 15 лет.
Приходько Илья Викторович
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос