Раздел G01 Международной Патентной Классификации (МПК) охватывает технологии и методы, связанные с измерением и испытанием различных физических величин и характеристик материалов. Этот раздел включает широкий спектр измерительных приборов и устройств, предназначенных для точного и надежного получения данных.
Подкласс G01B включает методы и устройства для измерения линейных размеров, таких как длина и толщина, а также углов и площадей. Сюда входят измерительные инструменты, такие как линейки, штангенциркули, микрометры и угломеры. Также рассматриваются методы для оценки неровностей и контуров поверхностей.
Подкласс G01C охватывает устройства и методы для измерения расстояний и азимутов, топографические исследования, а также навигационные системы. Включает гироскопические приборы и методы фотограмметрии и видеограмметрии для создания точных карт и моделей местности.
Подкласс G01D охватывает общие измерительные методы и устройства, которые могут применяться для различных переменных величин. Также сюда входят устройства для передачи и преобразования сигналов, не предназначенные для специфических переменных.
Подкласс G01F включает методы и устройства для измерения объема и расхода жидкостей, а также уровня жидкостей и твердых материалов. Сюда относятся расходомеры, уровнемеры и дозаторы.
Подкласс G01G охватывает устройства и методы для взвешивания, включая различные типы весов и весоизмерительных систем. Рассматриваются как традиционные механические весы, так и современные электронные весоизмерительные приборы.
Подкласс G01H включает методы и устройства для измерения колебаний различной частоты, включая ультразвуковые, звуковые и инфразвуковые колебания. Включает сейсмометры, микрофоны и другие акустические измерительные устройства.
Подкласс G01J охватывает методы и устройства для измерения различных характеристик света, включая интенсивность, спектр, поляризацию и фазу. Сюда относятся спектрометры, колориметры и пирометры.
Подкласс G01K включает устройства и методы для измерения температуры и тепла. Сюда входят термометры, термопары и инфракрасные датчики температуры.
Подкласс G01L охватывает измерительные устройства и методы для определения различных механических параметров, таких как сила, напряжение, крутящий момент и давление. Сюда входят динамометры, манометры и датчики давления.
Подкласс G01M включает методы и устройства для проверки балансировки машин и конструкций, а также для испытания различных устройств на прочность, устойчивость и другие параметры.
Подкласс G01N охватывает методы и устройства для анализа и исследования материалов, включая химический анализ и определение физических свойств. Сюда входят спектроскопия, хроматография и различные методы микроскопии.
Подкласс G01P включает методы и устройства для измерения различных параметров движения, таких как скорость, ускорение и ударные силы. Сюда входят тахометры, акселерометры и гироскопы.
Подкласс G01Q охватывает методы и устройства, использующие сканирующие зонды для анализа поверхности материалов и микроскопии. Сюда относятся атомно-силовая микроскопия и сканирующая туннельная микроскопия.
Подкласс G01R включает устройства и методы для измерения различных электрических и магнитных величин, таких как напряжение, ток, сопротивление и магнитное поле. Сюда входят мультиметры, осциллографы и гауссометры.
Подкласс G01S охватывает методы и устройства для радиопеленгации, радионавигации и радиолокации. Сюда относятся системы GPS, радары и сонары.
Подкласс G01T включает методы и устройства для измерения ядерных излучений и рентгеновских лучей. Сюда относятся дозиметры, спектрометры и рентгеновские детекторы.
Подкласс G01V охватывает методы и устройства для геофизических измерений, включая гравитационные измерения и методы обнаружения скрытых объектов. Сюда входят гравиметры, магнитометры и сейсмографы.
Подкласс G01W включает устройства и методы для метеорологических измерений, таких как измерение температуры, давления, влажности и скорости ветра. Сюда входят барометры, гигрометры и анемометры.
Раздел G01 играет ключевую роль в точном измерении и испытании различных физических величин, обеспечивая основу для научных исследований, промышленного производства и множества других приложений.
Патентование приборов для измерений является неотъемлемой частью инновационного процесса. Эти приборы играют ключевую роль в различных отраслях, обеспечивая точные и надежные измерения, необходимые для принятия важных решений. Патенты в данной области позволяют изобретателям и компаниям обеспечить защиту своих технических разработок, а также поощряют дальнейшие исследования и инновации в сфере измерительной техники.
Оставьте свои контактные данные и мы вам перезвоним
Нажимая кнопку «Отправить», я подтверждаю свою дееспособность, и даю согласие на получение информации от Сервиса «Prilan», согласие на обработку персональных данных в соответствии с Политикой конфиденциальности и Пользовательским соглашением.